W odniesieniu do produkowanych elektronicznych mierników energii elektrycznej, obecnie mają miejsce dwie tendencje, w pewnym sensie sprzeczne ze sobą, tj. podwyższanie jakości wyrobów i obniżanie kosztów ich wytworzenia. Przy czym jakość jest tutaj rozumiana jako trwałość wyrobu, przy zachowaniu jego założonych parametrów technicznych (pełna funkcjonalność licznika, a w szczególności prawidłowe wyświetlanie zużytej energii i zachowanie klasy dokładności pomiaru). Klienci coraz częściej oczekują 8 letniej gwarancji na liczniki, a więc przynajmniej na jeden cykl legalizacyjny. Jednocześnie konkurencja z Dalekiego Wschodu wymusza obniżanie ceny wyrobów, co w pewnym sensie przekłada się na konieczność stosowania tańszych zamienników do już zaimplementowanych komponentów elektronicznych. To z kolei stwarza ryzyko pogorszenia jakości. W takiej sytuacji należałoby opracować statystyczną metodę (niszczącą) przyspieszonego testowania wyrobów, aby z jednej strony symulować 8 letni okres pracy licznika, z drugiej zaś weryfikować jakość zamienników.
Zadaniem jest zatem przedstawienie takiej metody, która będzie prezentowała odpowiedni algorytm i warunki badania starzeniowego liczników.
Autor zadania: Tomasz Urbańczyk, APATOR SA
Rozwiązanie: do 10.000 znaków ze spacjami, plik *.pdf, *.doc, *.rtf, *.txt.
